专业型分析天平
奥豪斯Explorer天平具有便捷的图形界面软件SmarText™ 2.0,并配有防静电涂层玻璃防风罩,提高了天平称量性能,且Explorer采用分体模块化设计,可以与称量基座进行分离,通过尖端技术与功能化的设计,Explorer实现了称量的精确性,帮助您提高实验室操作的效率。
梅特勒 托利多电子分析天平 AB/AL
AB-S/FACT采用温度漂移及时间设置触发的全自动校准技术(FACT),有效消除环境温度变化对称量结果精确性的影响;AB-S彩内置砝码
梅特勒XS系列0.01mg超越系列分析天平
梅特勒0.01mg超越系列分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操 作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求,确保更高的生产效率并使操作更安全。